高頻絕緣材料介電常數/介質損耗測試系統

高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的*解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用QBG-3E或AS2853A數字Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。
 

AS2855介電常數/介質損耗測試系統系統組成：
1.主機：AS2853A/QBG-3E/QBG-3F

高頻Q表

功能名稱：    QBG-3E    QBG-3F    AS2853A
 

信號源范圍DDS數字合成信號    10KHZ-70MHz    10KHZ-110MHz
    100KHZ-160MHz
信號源頻率覆蓋比    7000:1    11000:1    16000:1
信號源頻率精度 6位有效數    3×10-5 ±1個字      3×10-5 ±1個字       3×10-5 ±1個字   
Q測量范圍    1-1000自動/手動量程    1-1000自動/手動量程    1-1000自動/手動量程
Q分辨率    4位有效數,分辨率0.1    4位有效數,分辨率0.1    4位有效數,分辨率0.1
Q測量工作誤差    <5%    <5%    <5%
電感測量范圍 4位有效數,分辨率0.1nH    1nH-8.4H , 分辨率0.1nH    1nH-8.4H  分辨率0.1nH    1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量誤差    <5%    <5%    <5%
調諧電容    主電容30-540pF    主電容30-540pF    主電容17-240pF
電容直接測量范圍    1pF～2.5uF    1pF～2.5uF    1pF～25nF
 

調諧電容誤差
 

分辨率    ±1 pF或<1%
0.1pF    ±1 pF或<1%
0.1pF    ±1 pF或<1%
0.1pF
 

諧振點搜索    自動掃描    自動掃描    自動掃描
Q合格預置范圍     5-1000聲光提示    5-1000聲光提示    5-1000聲光提示
Q量程切換    自動/手動    自動/手動    自動/手動
LCD顯示參數    F，L，C，Q，Lt，Ct波段等    F，L，C，Q，Lt，Ct波段等    F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
自身殘余電感和測試引線電感的
自動扣除功能()    有    有    有
大電容值直接測量顯示功能()    測量值可達2.5uF    測量值可達2.5uF    測量值可達25nF
介質損耗系數    精度 萬分之五    精度 萬分之五    精度 萬分之五
            
2.S916（數顯）或S914介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：
固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm （二選一）  
液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）
3.LKI-1電感組
電感No    電感量    準確度%    Q值≥    分布電容約略值    諧振頻率范圍 MHz    適合介電常數測試頻率
                    QBG-3E/F    AS2853A    
1    0.1μH    ±0.05μH    200    5pF    20~70    31~103    50MHz
2    0.5μH    ±0.05μH    200    5pF    10~37    14.8~46.6    15MHz
3    2.5μH    ±5%    200    5pF    4.6~17.4    6.8~21.4    10MHz
4    10μH    ±5%    200    6pF    2.3~8.6    3.4~10.55    5MHz
5    50μH    ±5%    200    6pF    1~3.75    1.5~4.55    1.5MHz
6    100μH    ±5%    200    6pF    0.75~2.64    1.06~3.20    1MHz
7    1mH    ±5%    150    8pF    0.23~0.84    0.34~1.02    0.5MHz
8    5mH    ±5%    130    8pF    0.1~0.33    0.148~0.39    0.25MHz
9    10mH    ±5%    90    8pF    0.072~0.26    0.107~0.32    0.1MHz
注意: 可定制100MHz電感. 

附件 在高溫下測試介電常數
     在高溫下測試材料的介電常數需要有高溫測試平臺,以及特殊的耐高溫測試夾具.再配合上Q表主機,以完成在高溫下測試材料的介電常數.
     測試方法:把材料放在測試夾具的極片內上下夾住,然后把測試夾具放在高溫測試平臺內,通過引線連接測試夾具的信號輸出段與Q表主機的電容接線柱.以此使Q表諧振,等到數據.
 

一  高溫測試平臺參數

    帶升降高溫測試平臺是為高溫材料電性能測試專門設計的高溫環境。包括高溫實驗電爐、溫度控制器、升降裝置、溫度傳感器、石英玻璃杯、箱體等部件。
溫度范圍 RT1000℃ (根據不同型號,zui高溫度不同)
探針數量 4
控溫方式恒溫、變溫、
頻率范圍DC~50MHz
推薦型號: HTMS10Y11 10

二 高溫測試夾具參數

   精密高溫介電夾具是嚴格依據A S T M 1 5 0標準要求， 并針對高溫環境進行設計， 用于測量材料的介電性能。由上電極調節裝置、調節支撐架、樣品平臺、隔熱層、接線盒組成
溫度范圍 RT~600℃~1000℃(根據不同型號,zui高溫度不同)
校準頻率 DC~30MHz
測試電極 2個測試電極+保護電極
電極直徑 26.8mm
樣品大小 厚度小于10 mm，直徑5~40mm
終端連接 4*SMA母頭
微調行程 10mm
外形尺寸 W180mm*H270mm*D300mm
重 量 4KG